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              •         眾所周知,
                X射線管出射的X射線光譜由靶材元素的特征線和軔致輻射連續譜組成,軔致輻射連續譜在樣品上的散射是X射線熒光光譜分析中被測元素譜線背景的主要來源,是影響微量元素檢出限的最主要原因。



                       因此,理想的用于激發樣品元素的激發源如下特點:
                • 單一能量入射(單色化入射)樣品,減少連續譜線對被測元素的背景干擾;
                • 入射能量略高于待測元素的吸收邊,激發效率高;
                • 入射強度高且穩定的激發源,提升待測元素的熒光強度;
                • 入射能量聚焦到樣品較小點或面,利于元素熒光射線的收集和探測;

                       Johansson型雙曲面彎晶具備以上特點的理想激發源,雙曲面彎晶可以將光管特征X射線單色化,將入射X射線聚焦到樣品較小面,同時,不同角度和材質的雙曲面彎晶可以用于選擇不同波長的射線,從而達到選擇性和高效率激發樣品中元素的能力。


                 

                        全聚焦型雙曲面彎晶(Johansson-typeDCC)能夠對微焦斑X射線管出射的高強特征X射線進行Bragg衍射單色化并聚焦到直徑數十到數百微米的聚焦面,對樣品中的元素進行單波長激發,由于不再有連續譜入射到樣品上,被測元素特征線理論上不存在連續的散射背景,因而具有良好的峰背比,極低的檢出限,可以對微量甚至痕量元素進行定性定量檢測。
                 



                 

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                • 全聚焦型雙曲面彎晶(Johansson-type DCC),可對微焦斑X射線管出射的X射線準確聚焦于微小聚焦點,高X射線通量和單色化入射;

                • 在羅蘭圓方向和旋轉方向均可進行多塊晶體拼接,成倍增大衍射立體角;
                • 單色化X射線入射并激發樣品中元素,極大降低了X射線光管連續譜對檢測元素的連續背景,可對微量元素甚至痕量元素進行精確定量分析;
                • 微小的聚焦點,可實現微區精確定量分析,尤其適合其中微量元素的分析;
                • 使用壽命長,長時間使用不會帶來性能的降低;
                • 選擇不同材質和設計角度,可用于衍射不同靶材的特征譜線;



                 
              •  

                • 低背景XRF:單波長激發X射線熒光光譜儀Monochromatic XRF;
                • 波長色散X射線熒光光譜儀:增大衍射立體角波長色散X射線熒光光譜儀;
                • 微區分析:與微焦斑X射線光管組成微區元素成份分析;
                • 元素成像:與顯微鏡組成高精度、高靈敏度(亞ppm)、高空間分辨率的元素成像系統;
                • 全反射XRF:達到極低檢出限的元素成份分析(ppb級別);
                • XRD:提升X射線衍射光譜性能;







                 

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